ME400D是一款针对IGBT/SiC MOSFET功率模块研发及应用端动态特性测试评估的设备，同时可以帮助功率模块应用厂家进行变流器测试评估，门极参数优化，器件二供导入等。

ME400D-SE是一款针对IGBT，SiC MOSFET，GaN分立器件研发及应用端动态特性测试评估的设备，该设备可以帮助分立器件开发厂家进行器件性能摸底，快速输出规格书及测试报告，同时可以帮助分立器件应用厂家进行变流器测试评估，门极参数优化，器件二供导入等。 ME400D是一款针对IGBT/SiC MOSFET功率模块研发及应用端动态特性测试评估的设备，同时可以帮助功率模块应用厂家进行变流器测试评估，门极参数优化，器件二供导入等。

ME100D-AM是一款针对SiC器件量产端动态参数测试的设备，该设备可以帮助功率器件厂家进行量产动态参数测试筛选，支持自动化一站式大批量出厂测试；同时可以选配旋转台手动上下料，支持多品种小批量出厂测试或者来料检测试。 ME400D是一款针对IGBT/SiC MOSFET功率模块研发及应用端动态特性测试评估的设备，同时可以帮助功率模块应用厂家进行变流器测试评估，门极参数优化，器件二供导入等。

ME100S-AM是一款针对SiC器件量产端静态参数测试的设备，该设备可以帮助功率器件厂家进行量产静态参数测试筛选，支持自动化一站式大批量出厂测试；同时可以选配旋转台手动上下料，支持多品种小批量出厂测试或者来料检测试。 ME400D是一款针对IGBT/SiC MOSFET功率模块研发及应用端动态特性测试评估的设备，同时可以帮助功率模块应用厂家进行变流器测试评估，门极参数优化，器件二供导入等。

ME100DS-PIM是一款针对IGBT/SiC模块/衬板量产端动静态一体ATE测试设备，该设可以帮助功率模块厂家进行量产动态，静态参数测试筛选，支持两站并行测试；同时可以选配UIS，RgCg，绝缘等测试功能，支持自动化一站式测试解决方案。 ME400D是一款针对IGBT/SiC MOSFET功率模块研发及应用端动态特性测试评估的设备，同时可以帮助功率模块应用厂家进行变流器测试评估，门极参数优化，器件二供导入等。

ME100DHTXB是一款针对SiC器件动态偏压可靠性测试的设备，该设备可以帮助SiC器件厂家进行DHTGB，DHTRB可靠性摸底测试及可靠性验证；同时帮助第三方检测中心按照AQG324等标准进行可靠性认证测试。 ME400D是一款针对IGBT/SiC MOSFET功率模块研发及应用端动态特性测试评估的设备，同时可以帮助功率模块应用厂家进行变流器测试评估，门极参数优化，器件二供导入等。

ME100WLR提供自动化的晶圆级老化测试解决方案。该设备针对6吋SiC晶圆，支持HTGB（高温栅极偏置），HTRB（高温反向偏置），可精确测量VGS(th)、IGSS、IDSS等关键参数，广泛应用于车规级SiC晶圆的老化，帮制造商高效筛选出潜在失效的die，提高产品可靠性。 ME400D是一款针对IGBT/SiC MOSFET功率模块研发及应用端动态特性测试评估的设备，同时可以帮助功率模块应用厂家进行变流器测试评估，门极参数优化，器件二供导入等。