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新品速递 | SiC晶圆级老化测试设备ME100WLR
2025-03-05
ME100WLR系列设备是Firstack专为SiC晶圆级可靠性筛选打造的老化测试系统。通过晶圆级老化测试,可以有效筛查潜在缺陷,提升产品可靠性和应用安全性。
喜讯 | 飞仕得“SiC 功率器件动态偏压可靠性测试设备”成功认定浙江省首台(套)装备!
2024-12-31
2024年12月24日,浙江省经济和信息化厅公布《2024年度浙江省首台(套)装备结果公示名单》。通过全省制造业企业的激烈竞争和角逐,杭州飞仕得科技股份有限公司的SiC 功率器件动态偏压可靠性测试设备依靠自身的技术研发实力及产品创新能力...
创新未来,等你定义 | 飞仕得2025届校招正式启动!
2024-08-13
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喜讯 | 飞仕得“SiC器件智能动态测试装备”成功认定浙江省首台(套)装备!
2024-01-15
2024年1月11日,浙江省经济和信息化厅公布《2023年度浙江省首台(套)装备名单》。通过全省制造业企业的激烈竞争和角逐,杭州飞仕得科技股份有限公司的SiC器件智能动态测试装备依靠自身的技术研发实力及产品创新能力,成功入选并被认定为浙江...

技术文章

13 2024.12
浅谈功率半导体器件ATE测试治具
15 2024.11
浅谈基于IAP的微控制器程序升级原理
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SiC器件测试回路杂散电感优化方法
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SiC功率器件阈值电压测试方法
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