ME100DHTXB是一款针对SiC器件动态偏压可靠性测试设备，该设备可以帮助SiC器件厂家进行DHTGB，DHTRB可靠性摸底测试；同时帮助第三方检测中心按照AQG324等标准进行可靠性认证测试。

1. 快速开通关断技术

高dV/dt与低过冲的完美匹配;
DGB: dV_GS/dt > 1V/ns，无过冲;  
DRB: dV_DS/dt > 50V/ns，过冲<15%。

2. dV/dt在线程控调节技术

“一键式”软件操作，即可程控调节设备驱动能力;

针对不同封装器件实现dV/dt波形的在线调节。

3. 参数精准表征技术

各工位具有定制化的测试电路；

可实时精准监测V_GS(th)、I_GSS、I_DSS等参数的变化。

4.  “积木式”测试组合搭配

系统具备柜体，抽屉，治具自由组合模式，每个柜体均可选择DGB/DRB测试功能;
各个抽屉独立控制，不同工位独立驱动。