产品中心
应用&实验室测试设备
可靠性测试设备
量产测试设备
技术支持
技术分享
用例分享
服务支持
操作及教学视频
关于设备事业部
了解我们
加入我们
最新动态
联系我们
联系我们
产品中心
应用&实验室测试设备
可靠性测试设备
量产测试设备
ME400D
ME100DHTXB
ME100WLR
ME100DS-PIM
ME100D-AM
ME100S-AM
技术支持
技术分享
用例分享
服务支持
操作及教学视频
关于设备事业部
了解我们
加入我们
最新动态
联系我们
联系我们
CN
文章分类
全部
应用端测试设备
可靠性测试设备
量产测试设备
其他
13
2024.12
浅谈功率半导体器件ATE测试治具
引言:在功率半导体器件(如 IGBT、SiC-MOSFET 等)的生产和质量控制过程中,自动测试设备(ATE)扮演着至关重要的角色。而测试治具作为自动测试设备与被测器件之间的连接桥梁,其性能优劣直接影响测试结果的准确性与可靠性。一套优良的测试治具能够保障...
«
1
»